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XRF（X射線熒光光譜）是一種廣泛應用于元素分析的非破壞性測試技術。它基于X射線與物質相互作用的原理，通過測量物質中熒光輻射的能量和強度來確定樣品中的元素組成和含量。

XRF技術主要有兩種常見類型：能譜儀和熒光光譜儀。能譜儀使用固態探測器來測量不同能量范圍的X射線，并生成X射線能譜圖，然后根據能譜圖分析元素的存在和相對含量。熒光光譜儀則使用熒光體來轉換X射線為可見光，并通過光譜儀測量熒光光譜，從而分析元素的存在和含量。

焦距：300mm

波長范圍：300nm

光管功率：4W

光管電壓/電流：最大40kV/200uA

測試范圍：金屬檢測（標準配置Ti, V, Cr, Mn, Fe, Co, Ni, Cu, Zn, Au,W, Hf, Ta, Re, Pb, Bi, Zr, Nb, Mo, Pd, Ag, Cd, Sn, Sb, Mg, Al, Si, S, P等元素）

Vanta手持式重金屬手持式光譜儀是一款用于對土壤和其它材料進行篩查以探測出污染重金屬的重要工具。嵌入式GPS功能可以將檢測結果與其相應的GPS坐標結合在一起，從而使手持式光譜儀具有追溯樣本到野外的性能。Vanta手持式光譜儀可以方便地將GPS數據和樣本數據以Wireless LAN方式傳輸到GIS，以繪制出污染金屬的映射圖。這款手持式光譜儀可在場地定性、環境評估、房產評估及污染物跟蹤方面快速得到具有決策性的結果。Vanta手持式光譜儀在數秒鐘之內可檢測出RCRA（《資源保護及恢復法案》）中所規定的危險性高含量元素、需優先考慮的污染物質，以及危險金屬。

XRF具有非破壞性、快速、準確、多元素分析等優點，可以在實驗室和現場進行樣品分析。

非破壞性：XRF技術是一種非破壞性測試方法，樣品在進行分析時不需要在物理上被破壞或改變。這使得XRF技術適用于珍貴、歷史或不可逆的樣品。

全元素分析：XRF可以同時分析樣品中的多種元素，包括金屬和非金屬等。它能夠提供關于樣品組成和含量的全面信息。

快速分析：XRF技術具有快速分析的優勢，通常只需要幾分鐘即可完成一個樣品的分析。這對于大批量樣品分析、流程控制和實時監測非常有益。

靈敏度范圍廣：XRF技術可以檢測樣品中的元素濃度范圍很寬，從百分比級別到亞ppm（百萬分之一）級別的濃度都可以測量。

多種樣品類型適用：XRF技術適用于固體、液體和氣體樣品的分析。不同形態和性質的樣品可以通過相應的前處理方法進行準備和分析

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